"数字电路可分为以双极型晶体管为主要元件的双极型IC和以场效应为主要元件的MOSIC，而在数控设备中多用TTL电路、CMOS电路。其中 TTL电路中分类见图6:
其MOSIC电路中分类见图7:
上述电路中由于皆以“74”为其前缀，因此又可统称之为74系列，采用塑料封装，使用温度范围为0~70℃，属于民用级产品。在数控设备中使"
测试的根本差别在分立元件电路中主要应用电性能测试。电性能测试主要是指用静态测试用的万用表以及与时间有关的信号测量用的示波器，来测试分立元件的性能和显示上升和下降时间、脉冲信号，或信号通道和节点上的脉冲宽度的关系图形，利用这些图形来显示故障，确定出故障原因。数字电路的测试主要应用功能测试，它依据每个时钟脉冲状态和状态序列来进行测试。
因此，监测一个简单的微机至少需要24个通道，技术还在不断地更新。可想而知，一个完整的以微处理器为基础的数字电路所需同时监测的通道数已超过100条。就集成电路的变量数量而论对于多数中规模集成电路(MSD中的变量是以指数性增长，所以更不用提及大规模(LSI)和超大规模(VLSI集成电路的变量。由此，在数字电路中，形成了频率为10MH左右的数据流。
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