PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。
广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
安全保护装置
A、误操作安全装置：高压加速老化试验箱锅门若未关紧则机器无法启动.
B、超压安全保护：当锅内压力超过大工作值自动排气泄压.
C、超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.
D、防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.
E、手动安全保护排压伐.
PCT试验箱对半导体的PCT测试：PCT主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
产品特点
1. 采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。
2. 采用指针显示正负压表；时间控制器采 LED 显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。
3. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计.。
4. 圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。
5. 精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 200h。
6. 自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。
7. 内压力愈大时,专利packing,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。
8. 临界点 LIMIT 方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
9. 安全阀，当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。
10. 一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
使用注意事项
1、电源设备：应在供电线路中装有超负荷的保险丝装置，供此箱特种，并具有良好接地装置。
2、试料准备：将试品逐一编号后，将试品放置于试品转盘上，彼此以不相互接触和碰撞为宜。
3、待一切准备就绪，即关上箱门。
关闭控制系统各个开关，将电源插扑插上打开电源开关转盘即自动转动，同时控制系统的电源指示灯即亮，若须升温打开开关(即高温开关和低温开关)，然后调节全自动控制系统
5、仪器外壳有效接地，以使用安全。
6、仪器应放在通风良好的室内水平位置，在其周围不可放置易燃易爆物品。
7、应在供电线路中安装铁壳的闸刀开关一只，供此箱特种，在外壳接地通电前请检查本箱的电器性能，并应注意是否有断路或漏电现象,本仪器无防爆装置，不得放入易燃易爆物品干燥。
8、箱内物品放置切勿过挤，留出空间，以利热空气循环。
9、非工作人员请匆操作。
自我诊断功能，便于维护
内置自诊断装置可提示操作人员何时应进行例行维护，或对故障进行检查。带有一个个性化的面板控制器，它可使操作人员简单地对复杂的测试程序进行编程。
易于编制循环程序或直接运行Q-FOG自带的测试程序。可以完成许多循环腐蚀试验，如Prohesion试验、ASTM B117、ASTM G85、BS3900 F4和F9、DIN50.907和ISO9227等试验。内置以下全部或部分循环程序：
1、 循环A， ASTM B117（NSS）
2、 循环B， Prohesion
3、 循环C，CCT-1
4、 循环D，CCT-IV
5、 循环E，GM9540P/B
6、 循环F，ASTM B368（CASS）
