作为一种测试策略，在对PCB板进行可测性设计时，可利用软件分析电路网点和具扫描功能的器件，决定怎样有效地放有限数量的测试点，而又不减低测试覆盖率，经济的减少测试点和测试针。
Nand-Tree是Intel公司发明的一种可测性设计技术。在我司产品中，现只发现82371芯片内此设计。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件，我们可将此文件转换成测试向量。
ICT测试要做到故障定位准、测试稳定，与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后，可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。
在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时，只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际实用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点，消除外围电路对测试的影响。
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网络连线及远端遥控维修，Bar Code Reader(Printer)Package, Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator 光电保护及多连板自动盖章功能 实装板程式烧录功能 *选项测试功能 Agilent TestJet功能： 可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD 扩充，960频道测试时间：2mSec/Pin Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up 气压零件 FESTO DNG-80-160（200）-PPV-A气压缸，下压力：290Kg/6Bar FESTO DNG-100-160（200）-PPV-A气压缸，下压力：450Kg/6Bar FESTO DNG-125-160（200）-PPV-A气压缸，下压力：720Kg/6Bar 工作气压 4-6Kg/C㎡耗气量：4 Liter/cycle 电源
