在电子工业生产过程中每一道工序都要防止静电放电造成的击穿而造成大量报废，美国每年因静电放电致使半导体器件的损失达100亿美元，英国达20亿美元，日本的微电子产品报废损失中有70%是因静电放电造成的，更可怕的是有些超大规模集成电路在出厂时已被部分伤击伤，但未完全断开，而造成产品良率降低及使用寿命缩短，甚或在航天或重大领域则可能造成不可挽回的事故，所以ESD是在微电子应用领域中非常严重的问题。
ESD尽管放电的电压可能高达数千伏，但由于电量有限，放电时间在瞬间完成，因此造成的损伤往往是半导体介质层击穿和金属层的半熔化，损伤难以在后段的检测当中直接发现，但造成的损伤往往让产品到了终端用户手中才显现出来，而这是我们不能接受的；其次，ESD造成的经济损失会随着产业链逐级放大，ESD直接损伤的是元器件，但随着产品的组装和集成，终影响的是产品和系统，损失会逐级放大，而上游企业若因而招致的下游客户的索赔会远远超出其产品的价值；后，也是重要的，ESD控制要解决的不是一个单纯的技术问题而是系统性的工程，它涉及到了材料工艺、质量管理、可靠性分析、员工培训、检测审核等各个方面的工作，ESD控制水平的高低实际反映的是其可靠性和质量管理水平的高低，因此，它也就成为了EMS客户在选择供货商时关注的核心条件之一。
ESD通道门禁系统就是人体综合静电测试仪及门禁系统连动结合，针对传统单纯采用人体静电测试仪的缺点提出的多种解决方式，作业人员在进入EPA 区时，已确实做好人员静电接地的准备。适用范围:SMT生产线管制区、半导体业无尘室、高科技研发室、与军事静电管制区、爆裂物处理区、航空太空维修校验区、静电管制区、油气静电管制区、生化业静电管制区…各式需防静电测试防护之场合。
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