PCT试验箱对半导体的PCT测试：PCT主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
产品特点
1. 采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。
2. 采用指针显示正负压表；时间控制器采 LED 显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。
3. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计.。
4. 圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。
5. 精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 200h。
6. 自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。
7. 内压力愈大时,专利packing,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。
8. 临界点 LIMIT 方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
9. 安全阀，当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。
10. 一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
试验箱采用荧光紫外灯为光源，通过模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝，对材料进行加速耐候性试验，以获得材料耐候性的结果。可模拟自然气候中的紫外、雨淋、高温、高湿、凝露、黑暗等环境条件，通过重现这些条件，合并成一个循环，并让它自动执行完成循环次数。ZN-P
采用能模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波，可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。
是航空、汽车、家电、科研等领域的测试设备，用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
佳放置条件
一、温度：5～40℃；
二、相对湿度：不大于85%；
三、气压：86～106kPa；
四、电源：交流电压220±22V或380±38V 频率50±0.5Hz；
五、周围无强烈振动，无强磁场影响，无腐蚀性气体；
六、无阳光直接照射或其他冷、热源直接辐射；
八、周围无强烈气流，当周围空气需要强制对流时，气流不应直接吹到箱体上。
结构特点
☆试验室底座采用8#槽钢网式结构焊接,承载力强,能避免底部凹凸及开裂现象.
☆温度控制准确，精度高。由于采用了特的风道系统设计及电控系统，能保持整个房间温度高度均匀性，大大同类产品
☆内壁采用304不锈钢,外箱采用彩钢板,保温介质为聚氨酯硬质发泡,具有质轻隔热效果好等特点.
☆采用正压式天花板送风循环系统,温度均匀度和稳定度高.
☆系统保护功能，能确保安全长期稳定无故障运行.
☆外形美观，施工方便，施工周期短.
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