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中山薄膜厚度测量仪厂家,薄膜厚度测量仪-0.1μm

2022-08-20 编号:381817348
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产品详情

产品名薄膜厚度测量仪-,测厚仪器,薄膜测厚仪厂家供应,薄膜厚度测量仪-0.1μm
面向地区全国
中山薄膜厚度测量仪厂家,薄膜厚度测量仪-0.1μm

起初广泛使用的厚度测量工具是卡尺、螺旋测微器、测厚表等,但随着科技的进步、社会的发展,常用的测厚方法有射线测厚法、超声波测厚法、光学测厚法、机械测厚法等,虽然厚度检测方法众多,但从综合程度上看,在线测厚系统更多的还是采用激光测厚仪。

超声波测厚仪精度不够并且是接触式测量,对热轧、易变形物体都不易检测,并且不能进行在线检测,需要根据检测物体材质不同更换不同测头以免测量不准。

可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量, 具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点,已成为我国工业生产线产品质量控制的重要设备。采用激光测量法,连续对被测物进行非接触、无损伤厚度测量,采样速度快精度高,性能稳定,操作简单,可设定测值上下限,超出界限值时主机自动报警。对板材、带材进行非接触、连续、快速在线测量。适用于冷轧带钢、铜、铝和其他金属材质的带材、箔材及玻璃、橡胶等非金属板材厚度测量。并可输出厚差信号,参予闭环调节,实现厚度的自动控制。

两个激光位移传感器的激光对射,被测体放置在对射区域内,根据测量被测体上表面和下表面的距离,计算出被测体的厚度。
的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化

检测头采用电离室和电子前置放大器组成电离室检测头,离子室设计具有大空间,高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元,延长系统的使用寿命。

薄膜测厚仪根据程序预先设定的计算公式,通过组合不同的标样厚度并将其置于射线下测量,以得到一组基准数据,并存于PLC中。

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