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超声波测厚仪精度不够并且是接触式测量,对热轧、易变形物体都不易检测,并且不能进行在线检测,需要根据检测物体材质不同更换不同测头以免测量不准。
X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源,根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度,它的特点是放射物质能量低,无需使用许可证,测量精度高,可测量透明或不透明材料,不受添加剂和色母料的影响,不受环境温度和薄膜抖动影响。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成电离室检测头,离子室设计具有大空间,高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元,延长系统的使用寿命。
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