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日本富士fujiwork薄膜测试仪连续测厚机FT-D210NL/FT-D210NLT
新型号
FT-D210NLT 可以从薄膜边缘连续测量厚度，无需引线，通过头部夹入法支撑厚工件。
测量范围 20 μm 至 500 μm (FT-D210NL)
500 μm 至 3000 μm (FT-D210NLT)
测量分辨率 / 0.1 μm
秋山科技（东莞）有限公司提供日本富士fujiwork薄膜测试仪连续测厚机FT-D210NL/FT-D210NLT,包括在线薄膜测厚仪的详细产品价格、产品图片等产品介绍信息。
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