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日本yamabun软薄膜检测用台式测厚仪OF-C2 * TOF-C
模型TOF-C2 * TOF-C 的后续型号测量方法非接触式/电容式测量对象薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜测量原理电容式
高测量分辨率
由于是非接触型，因此非常适合接触型难以测量的薄膜。
即使表面状况粗糙，也可以进行测量。
基重测量
操作简单（具有自动介电常数设置功能）
秋山科技（东莞）有限公司提供日本yamabun软薄膜检测用台式测厚仪OF-C2TOF-C,包括台式测厚仪的详细产品价格、产品图片等产品介绍信息。
秋山科技（东莞）有限公 3年
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