手持式荧光光谱仪应用领域
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X光管和大面积硅漂移探测器（SDD）地耦合在一起，能够满足客户严苛的材质管控需求。
出众的轻元素（镁铝硅磷硫）分析可对组件及系统进行严格控制
检测限制低，可准确分析微量元素/残存元素
快速准确的元素分析和牌号鉴定（自带牌号库）
效率佳：重量轻（1.5千克），体积小，人体工程学设计，电池具有10-12小时的续航能力
数秒内完成开机并进行检测
仪器头部小：可轻松检测弯曲或拐角部位（如焊缝）
易于操作：
图标式直观用户界面：操作者几乎不需培训
大面积4.3英寸彩色触摸屏，即使在阳光直射下也能清晰地看到检测结果。操作简单方便，带上手套也不受影响
可按客户要求定制检测结果显示模式，以便于快速做出判断：即显示您所需的重要信息，例如合号、元素成分、合格/不合格通知，以及元素的显示顺序
可快速更换的防护窗口：无需使用任何工具便可更换已损坏或玷污的窗口
可选配相机，有助于准确定位测量
强大的数据管理功能：
可存储多达十万个检测结果，包括光谱谱图和样品图像（配备相机）
结果和报告可直接下载到U盘，或通过USB数据线传到电脑上，也可利用WiFi或蓝牙实现共享；可保存成CSV格式或PDF格式使数据具有完整性。
使用X-MET报告生成器（无需安装软件）创建客户自定义格式的报告：包括公司LOGO、样品图像、检测结果、光谱谱图及其他样品信息（如产品描述、产地、批号等）
cmos传感器和ccd传感器两者都是利用感光二极管进行光电转换，多能够将图像转换为数字数据，两者主要差异是数字数据传送的方式不同。cmos传感器是近几年在ccd传感器的基础上研发的，在自身性能的情况下兼具ccd传感器的功能，只需要干净的电源即可提供良好的图像，并可直接以数字方式读出。所以现在很多光谱分析仪设备多开始使用新型cmos传感器。
在XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如，铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。
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