采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
快速、准确、到位”的服务
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江苏天瑞仪器股份有限公司提供天瑞仪器膜厚仪,江苏天瑞x荧光镀层测厚仪规格,包括x荧光测厚仪,膜厚仪,x-ray测厚仪的详细产品价格、产品图片等产品介绍信息。
江苏天瑞仪器股份有限公 7年
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