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pct试验箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试。
湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。
pct高压加速试验箱产品简介
1.pct高压老化试验箱新款推荐采用新优化设计,美观大方，做工精细。
⒉采用大容量水箱,试验时间长,不中断。
3.采用日本“SHIMAX”智能温控器，具有精度高，控制稳定特点(依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏，USB曲线数据下载功能，和通讯功能)。
pct高压加速试验箱广泛应用于线路板,多层线路板.IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
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