产品描述：手持式X荧光光谱仪S1 TITAN重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kV X射线管、SMART®Grade 计时、SharpBeam®优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。
X光管和大面积硅漂移探测器（SDD）地耦合在一起，能够满足客户严苛的材质管控需求。
出众的轻元素（镁铝硅磷硫）分析可对组件及系统进行严格控制
检测限制低，可准确分析微量元素/残存元素
快速准确的元素分析和牌号鉴定（自带牌号库）
效率佳：重量轻（1.5千克），体积小，人体工程学设计，电池具有10-12小时的续航能力
数秒内完成开机并进行检测
仪器头部小：可轻松检测弯曲或拐角部位（如焊缝）
减少实验室检测成本：
可帮助客户现场快速无损地完成材料筛选工作，减少客户实验室检测样品数量，从而大大降低了检测成本
◆ 坚固，低成本采购：
专为恶劣环境而设计
IP54防护等级（相当于NEMA3），具有防尘和防水性能
大面积散热器，即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性
备选防护窗口，可防止探头和X射线管在测试小部件或尖锐物品时受损
cmos传感器和ccd传感器两者都是利用感光二极管进行光电转换，多能够将图像转换为数字数据，两者主要差异是数字数据传送的方式不同。cmos传感器是近几年在ccd传感器的基础上研发的，在自身性能的情况下兼具ccd传感器的功能，只需要干净的电源即可提供良好的图像，并可直接以数字方式读出。所以现在很多光谱分析仪设备多开始使用新型cmos传感器。
合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。
在XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如，铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。
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