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UV-A紫外辐照计适用于高分子材料老化紫外辐照度测量工作产品介绍
UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。
辐射照度测量仪性能特点
1、光谱及角度特性经严格校正
2、数字液晶显示，带背光
3、手动/自动量程切换
4、数字输出接口（USB,冗余供电）
5、低电量提醒
6、自动延时关机
7、有数字保持
8、轻触按键操作，蜂鸣提示
紫外辐射照度仪技术参数
项目
参数(探头二选一，单通道）
波长范围λ1，峰值波长λp
（320～400）nm，λP＝365nm
波长范围λ2，峰值波长λp
（375～475）nm，λP＝420nm
辐照度测量范围
(0.1～199.9×103) μW/cm2
紫外带外区杂光
0.02%
相对示值误差
±8％（相对于NIM标准）
角度响应特性
±5% （α≤10°）
线性误差
±1%
换档误差
±1%
短期不稳定性
±1%（开机30min后）
疲劳特性
衰减量<2%
零值误差
满量程的±1%
响应时间
<1秒
使用环境
温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
尺寸和重量
160mm×78mm×43mm；0.2kg
电源
6F22型9V积层电池（非充电电池）
整机功耗
＜0.1VA
配置清单
主机、365或420探头二选一、数据线、探头盖、说明书、9V电池等
辐照度计适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
特别说明：为保护客户的权益，我司不在网上做报价， 以上详情和图片以及价格仅供推广使用，如需了解更多技术参数以及报价请找发布人，根据不同客户需求有不同规格类型照度计供用户选择。
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