镀层无损成分分析XRF测厚仪thick880元素分析荧光光谱仪
Thick系列
ELEMENT Instrument分析的优势和特点
*分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的创新型功能
*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室
*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的结果
*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
*用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心
*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享
*有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的客户使用
测试样品示例
铁镀铬
铜镀镍镀金 铁镀锌镍合金
-您的期望,我们的未来-
镀层分析好伙伴，您的材料识别好助手
Thick系列
仪器应用演示
1、打开仪器上盖
2、放入样品
3、在软件中点击“开始”按钮,测量完成,显示分析结果
-您的期望,我们的未来-
镀层分析好伙伴，您的材料识别好助手
Thick系列
Thick 880台式XRF镀层分析仪
硬件性能及优势
分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超
人性化界面
仪器性能
元素分析范围从硫(S)到铀（U）
同时可以分析几十种以上元素，五层镀层
分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
仪器配置
高压电源 0 ~ 50KV
光管管流 0μA ~ 1000μA
摄像头
滤光片 可选择多种定制切换
探测器 美国进口探测器
多道分析器 ELEMENT INSTRUMENT-DMCP
样品腔尺寸 310*280*60（mm）
测试时间 10sec ~ 100sec
仪器环境要求
环境温度 15°C ~ 30°C
相对湿度 35% ~ 70%
电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ
分析软件 ELEMENT INSTRUMENT-FP定性定量分析软件
外部尺寸 380*372*362（mm）
重量 29Kg</a>
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