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日本电测dengsoku便携式膜厚仪，测薄膜，金属涂层等厚度QNIx系列
便携式膜厚仪，可轻松提高麻烦的膜厚测量的生产效率
QNIx系列产品允许您仅使用超轻型紧凑型仪器和探头即可测量薄膜厚度，而无需携带笨重的薄膜厚度计。
无线测量无需电缆。它有助于将测量数据传输到PC，也有助于防止测量过程中掉落事故。
无需进行膜校准即可进行的膜厚度测量
出厂时输入了16点校准数据。这样就无需进行麻烦的薄膜打样工作，并且可以进行的薄膜厚度测量。
膜厚测量数据传输的新技术
在传统的测量仪器中，测量仪器通过电缆连接到个人计算机以传输测量数据。QNIx系列使用“无线加密狗”，只需将其插入USB端口即可进行传输。您可以，更轻松地浏览测量数据。
超轻便的无线测量仪
探头测得的数据被无线发送到主机。它降低了被电缆卡住，像传统产品一样妨碍或导致跌落事故的风险。此外，该探头重30克，非常轻巧，因此您无需携带笨重的仪器。
一种不易折断且不会在测量对象上留下痕迹的探针。
QNIx系列探头被增强塑料包围，性提高了30％。即使发生极少数的故障，拆卸和维修也很容易，因此缩短了维修时间。此外，它配备有红宝石芯片，可以安全地进行测量，而不会损坏要测量的对象（样品）。
便携式薄膜测厚仪的型号代码指南
[F]黑色金属材料的非磁性膜厚度测量
[N]有色金属材料的非导电膜厚度测量
[FN]用一根探针测量黑色金属和有色金属材料上的膜厚
[T]微型探针
[M]测量数据存储功能，数据传输到PC
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