透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统
透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统 TEL:15-301-310-116
透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。
性能指标
透射电镜指标：
● 兼容电镜型号及极靴；
● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；
● 透射电镜原有分辨率。
电学测量指标：
● 包含一个电流电压测试单元；
● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；
● 电流分辨率：优于100 fA；
● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；
● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
扫描探针操纵指标：
● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
低温参数指标：
● 兼容型号透射电镜及极靴；
● 全温区结构分辨率优于0.2 nm；
● 变温范围为85 K-380 K，温度稳定性优于±0.1 K。
产品特色
（1）温度连续可控，稳定性高；
（2）低温下可实现对样品施加应力及电学研究。</a>
采购咨询：153-013-101-16
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