津趣光电-便携式el测试仪
技术参数
型号规格 JQ-B240
测试系统 测试模组/成像模组 / 暗室模组
检测时间 (S) 1~5S
检测对象 晶体硅组件;单晶/多晶
检测方式 白天暗室检测/夜晚支架上组件直接检测
可判断缺陷类型 隐裂/断栅/黑心/黑边/低效率片/烧结网纹/碎片/边缘过刻/材料缺陷
成像系统 分辨率:2400W,
自动对焦 内置无线传输模组/外接远程无线wifi
暗室系统 暗室帐篷
面积(mm):2200*2200*1300(可定制)
上电电源(可选) 直流稳压电源 60V10A(标配)
便携式发电机(可选)
多组件供电电源(可选)
上电模式 手动连接组件上电
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