镀层测厚仪器
E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，用于镀层厚度检测；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF技术，仪器所用标准样品均有三方检测机构报告；精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到的测试效果。
仪器规格：
● 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）
● 样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）
● 仪器重量：50kg
● 供电电源：AC220V/ 50Hz
● 大功率：330W
● 工作温度：15-30℃
● 相对湿度：≤85%，不结露
应用领域：
● 根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试度。
● 配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型
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