IC测试座

定制QFP176-0.4 芯片测试座 翻盖双扣旋钮测试治具 工厂直销，QFP176-0.4合金翻盖测试座； 可根据客户需求定制不同封装、间距、尺寸的IC测试座; 欢迎来图，来电咨询洽谈； 产品特点及性能参

eMCP221探针金属盒转USB3.0母口测试座BGA221转USB3.0测试座 适用于EMCP221封装芯片的测试； 可作为BGA221芯片测试、烧录、老化使用; eMCP221探针+金属盒转USB3.0母口测试座 一.功能： ※ 可对未写

eMMC5.0转USB3.0测试座 eMMC5.1座子 HS200高速读写适配器Adapter eMMC5.0 eMMC5.1 转 USB3.0 接口测试座 大量现货！！！ 天津瑞发科主控，测试座支持HS200，实测数据跟芯片密切相关，以下实测数据为H2t

HMILU QFP48翻盖弹片测试座 产品简介 产品用途 编程座、测试座，对QFP48的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 QFP48、PQFP48、TQFP48，引脚间距0.5mm 测试座 QFT-48-0.5-06 特点 四周按芯片顺序引出所

型号：SOP8（20）-1.27下压弹片老化座 绝缘体材质：PEI、PPS 接触件材质：弹片、铍铜 寿命:1.5万次 工作温度：-60℃~155℃ 本款老化座适配芯片规格：SOP封装、8PIN、引脚间距1.27mm、芯片本体（

本款老化座适配芯片规格：SOP封装、8PIN、引脚间距1.27mm、芯片本体（不含引脚）宽度5.4mm。 绝缘体材质：PEI、PPS 接触件材质：弹片、铍铜 寿命：1.5万次 工作温度；-60℃~155℃

厂家直销额温枪传感器测试座 二极管插座 老化座

7050-4pin翻盖探针测试座 SMT贴片晶振老化座 7×5mm晶振 工厂直销，接受批发、零售 贴片晶振7050 7.0*5.0mm 4pin晶振双面弹老化座 适用于有源晶振编程、烧录、老化 量大从优，欢迎咨询

DFN8(2*3)-0.5翻盖探针测试座 QFN8-0.5-CPO1PNL烧录座 厂家批发 工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉！ 翻盖探针测试座，DFN8-0.5HMILU自有品牌，大量现货当天发！ 【0.5间距/带板】 DFN8(2*3)-0.5翻盖探针

QFN48-0.5 翻盖弹片烧录座 （双层转板，600mil（15.2mm）排距双排针，可直插编程器锁紧座） 产品简介 产品用途：编程座、测试座，对QFN48-0.5的IC芯片进行烧写、测试 适用封装：QFN48

产品特点及性能参数： ※ 采用手动翻盖式结构，操作方便； ※ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位； ※ 探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；

GDDR5显卡测试治具GDDR5测试座GDDR5探针测试座 鸿怡电子拥有多年的socket设计、制作经验，可据据客户要求，提供专业的探针测试座，适用于IC研发、测试。 或是根据客户现有的产品PCBA板，直接

pogo pin QFN测试座老化座 QFn32 ATE测试座 厂家pogo pin QFN测试座老化座 QFn ATE测试座产品特点： 1，采用自动机压结构，操作方便，工作效率大大提高； 2，探针一端接触QFN芯片，一端接

EMMC 100下压弹片转USB测试座 产品简介 产品用途:编程座、测试座，对EMMC100的IC芯片进行测试、读写 测试方法 1.选择和IC匹配的限位框，把IC按方向平放入SOCKET内

BGA152转DIP48翻盖弹片测试座 产品简介 产品用途:测试座，对BGA152的IC芯片进行测试 适用封装:BGA152 引脚间距1.0mm 测试座:BGA152-1.0 特点:弹片采用进口铍铜材料，阻抗小，弹性好。翻盖换