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日立二手扫描电镜S-3400二手SEM扫描电镜

2021-01-26 编号:332867517
价格面议
  • 扫描电镜,二手 SEM,二手电镜,日立S-3400N
  • 周海波
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产品详情

产品名电子显微镜,扫描电镜,二手电镜,二手 SEM
面向地区全国
品牌其它
类型其它
日立二手扫描电镜S-3400二手SEM扫描电镜 1.仪器的基本信息:
仪器名称:扫描电子显微镜
英文名:Scanning Electron Microscope
型号:Hitachi S-3400N
产地:日本
购买时间:
存放地点:深圳瑞赛奇精密仪器有限公司
管理人员:周先生
联系电话:

2.仪器的用途:
Hitachi S-3400N型扫描电子显微镜,主要用于对材料的微观形貌、组织和成分进行有效分析。

3.仪器的性能指标:
1)分辨率
二次电子探头:≤3.0 nm(在30kV,高真空模式),≤10 nm(在3 kV,高真空模式);被散射探头:≤4.0 nm(在30kV,低真空模式)。
2)加速电压:0.3kV~30kV连续可调。
3)放大倍数:低倍率5倍,高倍率300,000倍。
4)真空系统
①具有低真空功能,高低真空切换,不需要安装压差光阑;
②真空度:高真空不低于0.1 mPa;低真空(压力范围):10 Pa—270 Pa;
5)电子光学系统
①电子枪:钨灯丝,具有自动偏压+4级偏压功能;
②聚光镜光阑完全安装在长内衬管内,可自行更换聚光镜光阑。
6)样品室和样品台
①样品台尺寸:装载直径≥200 mm样品;
②样品台(五轴样品台,2轴马达驱动功能);
③ 行程:X=100 mm;Y=50 mm;Z=50 mm;R=3600;T=-20~+900;
6)探测器及成像系统
① 二次电子探测器:二次电子像;高灵敏5分割背散射电子探测器:成分像、形貌像和三维像;
②成像模式:同时得到二次电子像,背散射电子像,两种图像混合像;</a>

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